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中文文献库 - 馆藏
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Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors. |
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Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1985. |
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| 地点 | 中科院文献情报中心 ; 四层西文自科图书区 ; 53.72083 ; M484 |
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| 描述 | 单册状态 | 应还日期 | 分馆 | 馆藏地 | 架位 | 请求数 | 条码 | OPAC注释 | SFX | |
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| 预约 详细 |
1985 | 西文文献 | 在架上 | 中科院文献情报中心 | 四层西文自科图书区 | 53.72083 /M484 /1985 | WB018430 |
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| 中国科学院文献情报中心 |  |
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